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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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測厚儀
材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數，其選用的材質和鍍層厚度直接影響了零件或產品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產品的可靠性和使用壽命，因此，膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測厚儀，鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。英飛思開發的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。
膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域，實現高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統
的點位測量功能有助于提高測量精度。
溫馨提示：以上是關于蘇州英飛思-蘇州膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測厚儀的詳細介紹，產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以聯系供應商或者讓供應商主動聯系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產品！
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第5年
